日本産業標準調査会(日本産業規格(旧:日本工業規格))

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規格番号 標題 備考 ハンドブック情報
タイトル 年版 巻号
JIS C 5261:1973 電子機器用可変抵抗器の試験方法 電子 1981 8
JIS C 5261:1973 電子機器用可変抵抗器の試験方法 電子 1982 8
JIS C 5261:1973 電子機器用可変抵抗器の試験方法 電子 1986 8
JIS C 5261:1987 電子機器用可変抵抗器の試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1991 8
JIS C 5261:1987 電子機器用可変抵抗器の試験方法 電子 1989 8
JIS C 5261:1987 電子機器用可変抵抗器の試験方法 電子 1990 8
JIS C 5261:1987 電子機器用可変抵抗器の試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1992 8
JIS C 5261:1987 電子機器用可変抵抗器の試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1993 8
JIS C 5261:1993 電子機器用可変抵抗器の試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1995 8
JIS C 5261:1993 電子機器用可変抵抗器の試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1997 8
JIS C 5261:1993 電子機器用可変抵抗器の試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1998 8
JIS C 5301:1969 電子機器用低周波変成器通則 電子 1981 8
JIS C 5301:1969 電子機器用低周波変成器通則 電子 1982 8
JIS C 5301:1969 電子機器用低周波変成器通則 電子 1986 8
JIS C 5301:1969 電子機器用低周波変成器通則 電子 1989 8
JIS C 5301:1989 電子機器用低周波変成器通則 電子 部品編 1991 9
JIS C 5301:1989 電子機器用低周波変成器通則 電子 1990 8
JIS C 5301:1989 電子機器用低周波変成器通則 電子 部品編 1992 9
JIS C 5301:1989 電子機器用低周波変成器通則 電子 部品編 1993 9
JIS C 5301:1989 電子機器用低周波変成器通則 電子 部品編 1995 9
JIS C 5301:1989 電子機器用低周波変成器通則 電子 部品編 1997 9
JIS C 5301:1989 電子機器用低周波変成器通則 電子 部品編 1998 9
JIS C 5301:1989 電子機器用低周波変成器通則 電子Ⅲ 部品 2001 23
JIS C 5301:1989 電子機器用低周波変成器通則 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5301:1989 電子機器用低周波変成器通則 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5310:1972 電子機器用電源変圧器通則 電子 部品編 1991 9
JIS C 5310:1972 電子機器用電源変圧器通則 電子 1981 8
JIS C 5310:1972 電子機器用電源変圧器通則 電子 1982 8
JIS C 5310:1972 電子機器用電源変圧器通則 電子 1986 8
JIS C 5310:1972 電子機器用電源変圧器通則 電子 1989 8
JIS C 5310:1972 電子機器用電源変圧器通則 電子 1990 8
JIS C 5310:1972 電子機器用電源変圧器通則 電子 部品編 1992 9
JIS C 5310:1972 電子機器用電源変圧器通則 電子 部品編 1993 9
JIS C 5310:1972 電子機器用電源変圧器通則 電子 部品編 1995 9
JIS C 5310:1997 電子機器用電源変圧器品目別通則 電子 部品編 1997 9
JIS C 5310:1997 電子機器用電源変圧器品目別通則 電子 部品編 1998 9
JIS C 5310:1997 電子機器用電源変圧器品目別通則 電子Ⅲ 部品 2001 23
JIS C 5310:1997 電子機器用電源変圧器品目別通則 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5310:1997 電子機器用電源変圧器品目別通則 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5310:1997 電子機器用電源変圧器品目別通則 電子Ⅲ-1 部品 2011 23-1
JIS C 5310:1997 電子機器用電源変圧器品目別通則 電子Ⅲ-1 2007 23-1
JIS C 5311:1977 電子機器用電源変圧器試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1991 8
JIS C 5311:1977 電子機器用電源変圧器試験方法 電子 1981 8
JIS C 5311:1977 電子機器用電源変圧器試験方法 電子 1982 8
JIS C 5311:1977 電子機器用電源変圧器試験方法 電子 1986 8
JIS C 5311:1977 電子機器用電源変圧器試験方法 電子 1989 8
JIS C 5311:1977 電子機器用電源変圧器試験方法 電子 1990 8
JIS C 5311:1977 電子機器用電源変圧器試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1992 8
JIS C 5311:1977 電子機器用電源変圧器試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1993 8
JIS C 5311:1994 電子機器用電源変圧器試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1995 8
JIS C 5311:1994 電子機器用電源変圧器試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1997 8
JIS C 5311:1994 電子機器用電源変圧器試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1998 8
JIS C 5311:1994 電子機器用電源変圧器試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1999 8
JIS C 5311:1994 電子機器用電源変圧器試験方法 電子Ⅰ 試験 2001 21
JIS C 5311:1994 電子機器用電源変圧器試験方法 電子Ⅰ 試験 2002 21
JIS C 5311:1994 電子機器用電源変圧器試験方法 電子Ⅰ 試験 2003 21
JIS C 5311:1994 電子機器用電源変圧器試験方法 電子Ⅰ 試験 2004 21
JIS C 5311:1994 電子機器用電源変圧器試験方法 電子Ⅲ-1 部品 2011 23-1
JIS C 5311:1994 電子機器用電源変圧器試験方法 電子Ⅲ-1 2007 23-1
JIS C 5311:1994 電子機器用電源変圧器試験方法 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5320:1972 電子機器用高周波コイルおよび中間周波変成器通則 電子 1981 8
JIS C 5320:1972 電子機器用高周波コイルおよび中間周波変成器通則 電子 1982 8
JIS C 5320:1972 電子機器用高周波コイルおよび中間周波変成器通則 電子 1986 8
JIS C 5320:1987 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則 電子 部品編 1991 9
JIS C 5320:1987 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則 電子 1989 8
JIS C 5320:1987 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則 電子 1990 8
JIS C 5320:1987 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則 電子 部品編 1992 9
JIS C 5320:1987 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則 電子 部品編 1993 9
JIS C 5320:1994 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則 電子 部品編 1995 9
JIS C 5320:1994 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則 電子 部品編 1997 9
JIS C 5320:1994 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則 電子 部品編 1998 9
JIS C 5320:1994 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則 電子Ⅲ 部品 2001 23
JIS C 5320:1994 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5320:1994 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5320:1994 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則 電子Ⅲ-1 部品 2011 23-1
JIS C 5320:1994 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則 電子Ⅲ-1 2007 23-1
JIS C 5321:1976 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子 1981 8
JIS C 5321:1976 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子 1982 8
JIS C 5321:1976 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子 1986 8
JIS C 5321:1976 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子 1989 8
JIS C 5321:1976 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子 1990 8
JIS C 5321:1990 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1991 8
JIS C 5321:1990 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1992 8
JIS C 5321:1990 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1993 8
JIS C 5321:1990 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1995 8
JIS C 5321:1990 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1997 8
JIS C 5321:1997 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1998 8
JIS C 5321:1997 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1999 8
JIS C 5321:1997 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子Ⅰ 試験 2001 21
JIS C 5321:1997 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子Ⅰ 試験 2002 21
JIS C 5321:1997 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子Ⅰ 試験 2003 21
JIS C 5321:1997 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子Ⅰ 試験 2004 21
JIS C 5321:1997 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子Ⅲ-1 部品 2011 23-1
JIS C 5321:1997 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子Ⅲ-1 2007 23-1
JIS C 5321:1997 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5381-1:2004 低圧電圧システムに接続するサージ防護デバイスの所要性能及び試験方法 電気設備Ⅰ一般/電線・ケーブル/電線管・ダクト・附属品 2011 19
JIS C 5381-1:2004 低圧配電システムに接続するサージ防護デバイスの所要性能及び試験方法 電気設備Ⅰ 2007 19
JIS C 5381-11:2014 低圧サージ防護デバイス-第11部:低圧電圧システムに接続する低圧サージ防護デバイスの要求性能及び試験方法 電気設備Ⅰ一般/電線・ケーブル/電線管・ダクト・附属品 2015 19
JIS C 5381-12:2004 低圧配電システムに接続するサージ防護デバイスの選定及び適用基準 電気設備Ⅰ 2007 19
JIS C 5381-12:2004 低圧配電システムに接続するサージ防護デバイスの選定及び適用基準 電気設備Ⅰ一般/電線・ケーブル/電線管・ダクト・附属品 2011 19
JIS C 5381-12:2014 低圧サージ防護デバイス-第12部:低圧電圧システムに接続する低圧サージ防護デバイスの選定及び適用基準 電気設備Ⅰ一般/電線・ケーブル/電線管・ダクト・附属品 2015 19
JIS C 5381-21:2004 通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイスの所要性能及び試験方法 電気設備Ⅰ 2007 19
JIS C 5381-21:2004 通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイスの所要性能及び試験方法 電気設備Ⅰ一般/電線・ケーブル/電線管・ダクト・附属品 2011 19
JIS C 5381-21:2014 低圧サージ防護デバイス-第21部:通信及び信号回路に接続するサージ防護デバイス(SPD)の要求性能及び試験方法 電気設備Ⅰ一般/電線・ケーブル/電線管・ダクト・附属品 2015 19
JIS C 5381-22:2007 通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイスの選定及び適用基準 電気設備Ⅰ一般/電線・ケーブル/電線管・ダクト・附属品 2011 19
JIS C 5381-22:2007 通信及び信号回路に接続するサージ防護デバイスの選定及び適用基準 電気設備Ⅰ一般/電線・ケーブル/電線管・ダクト・附属品 2015 19
JIS C 5401:1976 電子機器用コネクタに関する通則 光学 1988 39
JIS C 5401:1976 電子機器用コネクタに関する通則 光学 1991 39
JIS C 5401:1976 電子機器用コネクタに関する通則 電子 部品編 1991 9
JIS C 5401:1976 電子機器用コネクタに関する通則 電子 1981 8
JIS C 5401:1976 電子機器用コネクタに関する通則 電子 1982 8
JIS C 5401:1976 電子機器用コネクタに関する通則 電子 1986 8
JIS C 5401:1976 電子機器用コネクタに関する通則 電子 1989 8
JIS C 5401:1976 電子機器用コネクタに関する通則 電子 1990 8
JIS C 5401:1991 電子機器用コネクタ通則 光学 1997 39
JIS C 5401:1991 電子機器用コネクタ通則 光学 1999 39
JIS C 5401:1991 電子機器用コネクタ通則 光学機器 2001 24
JIS C 5401:1991 電子機器用コネクタ通則 光学機器 2002 24
JIS C 5401:1991 電子機器用コネクタ通則 光学機器 2003 24
JIS C 5401:1991 電子機器用コネクタ通則 光学機器 2004 24
JIS C 5401:1991 電子機器用コネクタ通則 光学機器 2007 24
JIS C 5401:1991 電子機器用コネクタ通則 電子 部品編 1992 9
JIS C 5401:1991 電子機器用コネクタ通則 電子 部品編 1993 9
JIS C 5401:1991 電子機器用コネクタ通則 電子 部品編 1995 9
JIS C 5401:1991 電子機器用コネクタ通則 電子 部品編 1997 9
JIS C 5401:1991 電子機器用コネクタ通則 電子 部品編 1998 9
JIS C 5401:1991 電子機器用コネクタ通則 電子Ⅲ 部品 2001 23
JIS C 5401:1991 電子機器用コネクタ通則 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5401:1991 電子機器用コネクタ通則 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5401:1991 電子機器用コネクタ通則 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5401:1991 電子機器用コネクタ通則 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5401-1:2005 電子機器用コネクタｰ第1部:品目別通則-能力認証 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5401-1:2005 電子機器用コネクタ-第1部:品目別通則-能力認証 光学機器 2007 24
JIS C 5401-1:2005 電子機器用コネクタ-第1部:品目別通則-能力認証 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5401-2:2005 電子機器用コネクタ-第2部:品種別通則-丸形コネクタ-品質評価付 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5401-2-001:2005 電子機器用コネクタｰ第2-001部:丸形コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5401-2-001:2005 電子機器用コネクタ-第2-001部:丸形コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5401-3:2005 電子機器用コネクタｰ第3部:品種別通則-角形コネクタ-品質評価付 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5401-3:2005 電子機器用コネクタ-第3部:品種別通則-角形コネクタ-品質評価付 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5401-3-001:2005 電子機器用コネクタｰ第3-001部:角形コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5401-3-001:2005 電子機器用コネクタ-第3-001部:角形コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5401-4:2005 電子機器用コネクタｰ第4部:品種別通則-プリント配線板用コネクタ-品質評価付 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5401-4:2005 電子機器用コネクタ-第4部:品種別通則-プリント配線板用コネクタ-品質評価付 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5401-4-001:2005 電子機器用コネクタｰ第4-001部:プリント配線板用コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5401-4-001:2005 電子機器用コネクタ-第4-001部:プリント配線板用コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402:1975 電子機器用コネクタ試験方法 電子 1981 8
JIS C 5402:1975 電子機器用コネクタ試験方法 電子 1982 8
JIS C 5402:1975 電子機器用コネクタ試験方法 電子 1986 8
JIS C 5402:1988 電子機器用コネクタ試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1991 8
JIS C 5402:1988 電子機器用コネクタ試験方法 電子 1989 8
JIS C 5402:1988 電子機器用コネクタ試験方法 電子 1990 8
JIS C 5402:1988 電子機器用コネクタ試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1992 8
JIS C 5402:1992 電子機器用コネクタｰ試験方法 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402:1992 電子機器用コネクタ試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1993 8
JIS C 5402:1992 電子機器用コネクタ試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1995 8
JIS C 5402:1992 電子機器用コネクタ試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1997 8
JIS C 5402:1992 電子機器用コネクタ試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1998 8
JIS C 5402:1992 電子機器用コネクタ試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1999 8
JIS C 5402:1992 電子機器用コネクタ試験方法 電子Ⅰ 試験 2001 21
JIS C 5402:1992 電子機器用コネクタ試験方法 電子Ⅰ 試験 2002 21
JIS C 5402:1992 電子機器用コネクタ試験方法 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-1:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第1部:一般 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5402-1:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第1部:一般 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-1:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1部:一般 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5402-1:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1部:一般 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-10-4:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第1-4部:過負荷試験-試験10d:電気的過負荷 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5402-10-4:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第10-4部:過負荷試験-試験10d:電気的過負荷 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5402-10-4:2006 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第10-4部:インパクト試験(可動形部品)、静的負荷試験(固定型部品)、耐久試験及び過負荷試験-試験11d:電気的過負荷(コネクタ) 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-10-4:2006 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第10-4部:インパクト試験(可動形部品)、静的負荷試験(固定形部品)、耐久試験及び過負荷試験-試験10d:電気的過負荷(コネクタ) 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-1-1:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第1-1部:一般試験-試験1a:外観 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-1-1:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-1部:一般試験-試験1a:外観 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-1-100:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第1-100部:一般-試験一覧 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5402-1-100:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-100部:一般-試験一覧 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5402-1-100:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第1-100部:一般-試験一覧 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-1-100:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-100部:一般-試験一覧 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-11-1:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第11-1部:耐候性試験-試験11a:一連耐候性 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5402-11-1:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第11-1部:耐候性試験-試験11a:一連耐候性 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-11-1:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-1部:耐候性試験-試験11a:一連耐候性 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5402-11-1:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-1部:耐候性試験-試験11a:一連耐候性 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-11-10:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第11-10部:耐候性試験-試験11j:低温 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-11-10:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-10部:耐候性試験-試験11j:低温 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-11-11:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第11-11部:耐候性試験-試験11k:減圧 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-11-11:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-11部:耐候性試験-試験11k:減圧 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-11-12:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第11-12部:耐候性試験-試験11m:温湿度サイクル 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-11-12:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-12部:耐候性試験-試験11m:温湿度サイクル 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-11-13:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第11-13部:耐候性試験-試験11n:ガスタイト・無はんだラッピング接続 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-11-13:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-13部:耐候性試験-試験11n:ガスタイト・無はんだラッピング接続 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-11-14:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第11-14部:耐候性試験-試験11p:単一ガス流腐食 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5402-11-14:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-14部:耐候性試験-試験11p:単一ガス流腐食 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5402-11-14:2006 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第11-14部:耐候性試験-試験11p:単一ガス流腐食 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-11-14:2006 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-14部:耐候性試験-試験11p:単一ガス流腐食 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-11-2:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第11-2部:耐候性試験-試験11b:低温・減圧・湿度複合シーケンス 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-11-2:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-2部:耐候性試験-試験11b:低温・減圧・湿度複合シーケンス 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-11-3:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第11-3部:耐候性試験-試験11c:高温高湿(定常) 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-11-3:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-3部:耐候性試験-試験11c:高温高湿(定常) 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-11-4:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第11-4部:耐候性試験-試験11d:温度急変 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-11-4:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-4部:耐候性試験-試験11d:温度急変 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-11-5:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第11-5部:耐候性試験-試験11e:カビの成長 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-11-5:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-5部:耐候性試験-試験11e:かびの成長 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-11-6:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第11-6部:耐候性試験-試験11f:腐食、塩水噴霧 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-11-6:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-6部:耐候性試験-試験11f:腐食、塩水噴霧 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-11-7:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第11-7部:耐候性試験-試験11g:混合ガス流腐植 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5402-11-7:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-7部:耐候性試験-試験11g:混合ガス流腐食 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5402-11-7:2006 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第11-7部:耐候性試験-試験11g:混合ガス流腐食 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-11-7:2006 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-7部:耐候性試験-試験11g:混合ガス流腐食 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-11-8:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第11-8部:耐候性試験-試験11h:砂じん 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5402-11-8:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第11-8部:耐候性試験-試験11h:砂じん 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-11-8:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-8部:耐候性試験-試験11h:砂じん 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5402-11-8:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-8部:耐候性試験-試験11h:砂じん 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-11-9:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第11-9部:耐候性試験-試験11i:高温 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-11-9:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-9部:耐候性試験-試験11i:高温 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-1-2:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第1-2部:一般試験-試験1b:寸法及び質量 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-1-2:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-2部:一般試験-試験1b:寸法及び質量 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-12-6:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第12-6部:はんだ付け試験-試験12f:自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5402-12-6:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第12-6部:はんだ付け試験-試験12f:自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-12-6:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第12-6部:はんだ付け試験-試験12f:自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5402-12-6:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第12-6部:はんだ付け試験-試験12f:自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-12-7:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第12-7部:はんだ付け試験-試験12g:はんだ付け性、平衡法 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-12-7:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第12-7部:はんだ付け試験-試験12g:はんだ付け性、平衡法 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-1-3:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第1-3部:一般試験-試験1c:電気的接触長 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5402-1-3:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第1-3部:一般試験-試験1c:電気的接触長 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-1-3:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-3部:一般検査-試験-1c:電気的接触長 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5402-1-3:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-3部:一般検査-試験1c:電気的接触長 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-13-1:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第13-1部:機械的動作試験-試験13a:結合力及び離脱力 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5402-13-1:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第13-1部:機械的動作試験-試験13a:結合力及び離脱力 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-13-1:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第13-1部:機械的動作試験-試験13a:結合力及び離脱力 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5402-13-1:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第13-1部:機械的動作試験-試験13a:結合力及び離脱力 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-1-4:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第1-4部:一般試験-試験1d:コンタクトの保護効果(スクーププルーフ) 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5402-1-4:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第1-4部:一般試験-試験1d:コンタクトの保護効果(スクーププルーフ) 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-1-4:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-4部:一般検査-試験1d:コンタクトの保護効果(スクーププルーフ) 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-1-4:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-4部:一般検査-試験-1d:コンタクトの保護効果(スクープルーフ) 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5402-14-7:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第14-7部:封止(気密性)試験-試験14g:噴射水 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5402-14-7:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第14-7部:封止(気密性)試験-試験14g:噴射水 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-14-7:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第14-7部:封止(気密性)試験-試験14g:噴射水 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5402-14-7:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第14-7部:封止(気密性)試験-試験14g:噴射水 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-15-8:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第15-8部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15h:コンタクト保持機構、工具の使用に対する耐久性 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5402-15-8:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第15-8部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15h:コンタクト保持機構、工具の使用に対する耐久性 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-15-8:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第15-8部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15h:コンタクト保持機構、工具の使用に対する耐久性 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-15-8:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第15-8部:コネクタ試験-試験15h:コンタクト保持機構、工具の使用に対する耐久性 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5402-16-20:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第16-20部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16t:機械的強度(無はんだ接続のターミネーション) 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-16-20:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第16-20部:コンタクト及びタームネーションの機械的試験-試験16t:機械的強度(無はんだ接続のターミネーション) 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5402-16-20:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-20部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16t:機械的強度(無はんだ接続のターミネーション) 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5402-16-20:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-20部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16t:機械的強度(無はんだ接続のターミネーション) 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-19-3:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第19-3部:耐化学薬品試験-試験19c:耐液性 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5402-19-3:2002 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第19-3部:耐化学薬品試験-試験19c:耐液性 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-19-3:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第19-3部:耐化学薬品試験-試験19c:耐液性 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5402-19-3:2002 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第19-3部:耐化学薬品試験-試験19c:耐液性 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-2:2005 電子機器用コネクタｰ第2部:品種別通則-丸形コネクタ-品質評価付 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-20-2:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第20-2部:耐火性試験-試験20b:耐火性 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-20-2:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第20-2部:耐火性試験-試験20b:耐火性 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-2-1:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第2-1部:導通及び接触抵抗試験-試験2a:接触抵抗-ミリボルトレベル法 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-2-1:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第2-1部:導通及び接触抵抗試験-試験2a:接触抵抗-ミリボルトレベル法 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-2-2:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第2-2部:導通及び接触抵抗試験-試験2b:接触抵抗-規定電流法 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-2-2:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第2-2部:導通及び接触抵抗試験-試験2b:接触抵抗-規定電流法 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-2-3:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第2-3部:導通及び接触抵抗試験-試験2c:接触抵抗の変動 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-2-3:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第2-3部:導通及び接触抵抗試験-試験2c:接触抵抗の変動 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-23-3:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第23-3部:スクリーニング及びフィルタリング試験-試験23c:コネクタ及びアクセサリのシールド効果 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-23-3:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第23-3部:スクリーニング及びフィルタリング試験-試験23c:コネクタ及びアクセサリのシールド効果 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-23-4:2006 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第23-4部:スクリーニング及びフィルタリング試験-試験23d:時間領域での伝送経路の反射 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-23-4:2006 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第23-4部:スクリーニング及びフィルタリング試験-試験23d:時間領域での伝送線路の反射 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-2-5:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第2-5部:導通及び接触抵抗試験-試験2e:コンタクトディスターバンス 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-2-5:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第2-5部:導通及び接触抵抗試験-試験2e:コンタクトディスターバンス 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-2-6:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第2-6部:導通及び接触抵抗試験-試験2f:ハウジング(シェル)の導通性 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-2-6:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第2-6部:導通及び接触抵抗試験-試験2f:ハウジング(シェル)の導通性 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-3-1:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第3-1部:絶縁試験-試験3a:絶縁抵抗 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-3-1:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第3-1部:絶縁試験-試験3a:絶縁抵抗 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-4-1:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第4-1部:電圧ストレス試験-試験4a:耐電圧 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-4-1:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第4-1部:電圧ストレス試験-試験4a:耐電圧 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-4-2:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第4-2部:電圧ストレス試験-試験4b:部分放電 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-4-2:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第4-2部:電圧ストレス試験-試験4b:部分放電 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-4-3:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第4-3部:電圧ストレス試験-試験4c:耐電圧(絶縁被覆付クリンプバレル) 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-4-3:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第4-3部:電圧ストレス試験-試験4c:耐電圧(絶縁被覆付クリンプバレル) 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-5-1:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第5-1部:電流容量試験-試験5a:温度上昇 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-5-1:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第5-1部:電流容量試験-試験5a:温度上昇 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-5-2:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第5-2部:電流容量試験-試験5b:電流・温度の軽減 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-5-2:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第5-2部:電流容量試験-試験5b:電流・温度の軽減 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-6-1:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第6-1部:動的ストレス試験-試験6a:加速度(定常) 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-6-1:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第6-1部:動的ストレス試験-試験6a:加速度(定常) 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-6-2:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第6-2部:動的ストレス試験-試験6b:バンプ 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-6-2:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第6-2部:動的ストレス試験-試験6b:バンプ 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-6-3:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第6-3部:動的ストレス試験-試験6c:衝撃 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-6-3:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第6-3部:動的ストレス試験-試験6c:衝撃 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5402-6-4:2005 電子機器用コネクタｰ試験及び測定-第6-4部:動的ストレス試験-試験6d:正弦波振動 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5402-6-4:2005 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第6-4部:動的ストレス試験-試験6d:正弦波振動 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5410:1976 高周波同軸コネクタ通則 電子 部品編 1991 9
JIS C 5410:1976 高周波同軸コネクタ通則 電子 1981 8
JIS C 5410:1976 高周波同軸コネクタ通則 電子 1982 8
JIS C 5410:1976 高周波同軸コネクタ通則 電子 1986 8
JIS C 5410:1976 高周波同軸コネクタ通則 電子 1989 8
JIS C 5410:1976 高周波同軸コネクタ通則 電子 1990 8
JIS C 5410:1991 高周波同軸コネクタ通則 電子 部品編 1992 9
JIS C 5410:1991 高周波同軸コネクタ通則 電子 部品編 1993 9
JIS C 5410:1991 高周波同軸コネクタ通則 電子 部品編 1995 9
JIS C 5410:1991 高周波同軸コネクタ通則 電子 部品編 1997 9
JIS C 5410:1991 高周波同軸コネクタ通則 電子 部品編 1998 9
JIS C 5410:1991 高周波同軸コネクタ通則 電子Ⅲ 部品 2001 23
JIS C 5410:1991 高周波同軸コネクタ通則 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5410:1991 高周波同軸コネクタ通則 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5410:1991 高周波同軸コネクタ通則 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5410:1991 高周波同軸コネクタ通則 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5411:1976 高周波同軸C01形コネクタ 電子 部品編 1991 9
JIS C 5411:1976 高周波同軸C01形コネクタ 電子 1981 8
JIS C 5411:1976 高周波同軸C01形コネクタ 電子 1982 8
JIS C 5411:1976 高周波同軸C01形コネクタ 電子 1986 8
JIS C 5411:1976 高周波同軸C01形コネクタ 電子 1989 8
JIS C 5411:1976 高周波同軸C01形コネクタ 電子 1990 8
JIS C 5411:1976 高周波同軸C01形コネクタ 電子 部品編 1992 9
JIS C 5411:1976 高周波同軸C01形コネクタ 電子 部品編 1993 9
JIS C 5411:1976 高周波同軸C01形コネクタ 電子 部品編 1995 9
JIS C 5411:1995 高周波同軸C01形コネクタ 電子 部品編 1997 9
JIS C 5411:1995 高周波同軸C01形コネクタ 電子 部品編 1998 9
JIS C 5411:1995 高周波同軸C01形コネクタ 電子Ⅲ 部品 2001 23
JIS C 5411:1995 高周波同軸C01形コネクタ 電子Ⅲ 部品 2003 23
JIS C 5411:1995 高周波同軸C01形コネクタ 電子Ⅲ 部品 2004 23
JIS C 5411:1995 高周波同軸C01形コネクタ 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5411:1995 高周波同軸C01形コネクタ 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5412:1976 高周波同軸C02形コネクタ 電子 部品編 1991 9
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JIS C 5415:1995 高周波同軸C05形コネクタ 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5419:1976 高周波同軸C11形コネクタ 電子 部品編 1991 9
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JIS C 5419:1995 高周波同軸C11形コネクタ 電子Ⅲ 部品 2001 23
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JIS C 5420:1971 印刷配線板用コネクタ通則 電子 部品編 1991 9
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JIS C 5420:1991 プリント配線板用コネクタ通則 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5420:1991 プリント配線板用コネクタ通則 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5432:1976 電子機器用丸形コネクタ 電子 部品編 1991 9
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JIS C 5432:1994 電子機器用丸形R01コネクタ 電子 部品編 1995 9
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JIS C 5432:1994 電子機器用丸形R01コネクタ 電子Ⅲ 部品 2001 23
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JIS C 5433:1976 電子機器用角形コネクタ 電子 部品編 1991 9
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JIS C 5440:1980 信頼性保証制御用小形電磁継電器通則 電子 部品編 1991 9
JIS C 5440:1980 信頼性保証制御用小形電磁継電器通則 電子 1981 8
JIS C 5440:1980 信頼性保証制御用小形電磁継電器通則 電子 1982 8
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JIS C 5441:1973 電子機器用スイッチの試験方法 電子 1981 8
JIS C 5441:1973 電子機器用スイッチの試験方法 電子 1982 8
JIS C 5441:1985 電子機器用スイッチの試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1991 8
JIS C 5441:1985 電子機器用スイッチの試験方法 電子 1986 8
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JIS C 5441:1985 電子機器用スイッチの試験方法 電子 1990 8
JIS C 5441:1985 電子機器用スイッチの試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1992 8
JIS C 5441:1992 電子機器用スイッチの試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1993 8
JIS C 5441:1994 電子機器用スイッチの試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1995 8
JIS C 5441:1994 電子機器用スイッチの試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1997 8
JIS C 5441:1994 電子機器用スイッチの試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1998 8
JIS C 5441:1994 電子機器用スイッチの試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1999 8
JIS C 5441:1994 電子機器用スイッチの試験方法 電子Ⅰ 試験 2001 21
JIS C 5441:1994 電子機器用スイッチの試験方法 電子Ⅰ 試験 2002 21
JIS C 5441:1994 電子機器用スイッチの試験方法 電子Ⅰ 試験 2003 21
JIS C 5441:1994 電子機器用スイッチの試験方法 電子Ⅰ 試験 2004 21
JIS C 5441:1994 電子機器用スイッチの試験方法 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5441:1994 電子機器用スイッチの試験方法 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5441:2006 電子機器用スイッチの試験方法(追補1) 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5441:2006 電子機器用スイッチの試験方法(追補1) 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5442:1978 制御用小形電磁継電器の試験方法 電子 1981 8
JIS C 5442:1978 制御用小形電磁継電器の試験方法 電子 1986 8
JIS C 5442:1978 制御用小形電磁継電気の試験方法 電子 1982 8
JIS C 5442:1986 制御用小形電磁継電器の試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1991 8
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JIS C 5442:1986 制御用小形電磁継電器の試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1992 8
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JIS C 5442:1986 制御用小形電磁継電気の試験方法 電子 1990 8
JIS C 5442:1996 制御用小型電磁リレーの試験方法 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5442:1996 制御用小形電磁リレーの試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1997 8
JIS C 5442:1996 制御用小形電磁リレーの試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1998 8
JIS C 5442:1996 制御用小形電磁リレーの試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1999 8
JIS C 5442:1996 制御用小形電磁リレーの試験方法 電子Ⅰ 試験 2001 21
JIS C 5442:1996 制御用小形電磁リレーの試験方法 電子Ⅰ 試験 2002 21
JIS C 5442:1996 制御用小形電磁リレーの試験方法 電子Ⅰ 試験 2003 21
JIS C 5442:1996 制御用小形電磁リレーの試験方法 電子Ⅰ 試験 2004 21
JIS C 5442:1996 制御用小形電磁リレーの試験方法 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5443:1997 電子機器用スイッチの品目別通則 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5443:1997 電子機器用スイッチ品目別通則 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1998 8
JIS C 5443:1997 電子機器用スイッチ品目別通則 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1999 8
JIS C 5443:1997 電子機器用スイッチ品目別通則 電子Ⅰ 試験 2001 21
JIS C 5443:1997 電子機器用スイッチ品目別通則 電子Ⅰ 試験 2002 21
JIS C 5443:1997 電子機器用スイッチ品目別通則 電子Ⅰ 試験 2003 21
JIS C 5443:1997 電子機器用スイッチ品目別通則 電子Ⅰ 試験 2004 21
JIS C 5443:1997 電子機器用スイッチ品目別通則 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5444:2000 電子機器用表面実装スイッチの試験方法 電子Ⅰ 試験 2001 21
JIS C 5444:2000 電子機器用表面実装スイッチの試験方法 電子Ⅰ 試験 2002 21
JIS C 5444:2000 電子機器用表面実装スイッチの試験方法 電子Ⅰ 試験 2003 21
JIS C 5444:2000 電子機器用表面実装スイッチの試験方法 電子Ⅰ 試験 2004 21
JIS C 5444:2000 電子機器用表面実装スイッチの試験方法 電子Ⅲ-2 部品 2011 23-2
JIS C 5444:2000 電子機器用表面実装スイッチの試験方法 電子Ⅲ-2 2007 23-2
JIS C 5501:1978 コーンスピーカ 電子 1981 8
JIS C 5501:1978 コーンスピーカ 電子 1982 8
JIS C 5502:1977 マイクロホン 電子 1981 8
JIS C 5502:1977 マイクロホン 電子 1982 8
JIS C 5502:1981 マイクロホン 公害関係 1989 10
JIS C 5502:1981 マイクロホン 公害関係 1990 10
JIS C 5502:1981 マイクロホン 公害関係 1982 10
JIS C 5502:1991 マイクロホン 公害関係 1991 10
JIS C 5502:1991 マイクロホン 環境測定 1992 10
JIS C 5502:1991 マイクロホン 環境測定 1993 10
JIS C 5502:1991 マイクロホン 環境測定 1994 10
JIS C 5502:1991 マイクロホン 環境測定 1995 10
JIS C 5502:1991 マイクロホン 環境測定 1996 10
JIS C 5502:1991 マイクロホン 環境測定 1997 10
JIS C 5502:1991 マイクロホン 環境測定 1998 10
JIS C 5502:1991 マイクロホン 環境測定 1999 10
JIS C 5502:1991 マイクロホン 環境測定 2000 10
JIS C 5502:1991 マイクロホン 環境測定Ⅰ 大気・騒音・振動 2001 52
JIS C 5503:1967 ピックアップ 電子 1981 8
JIS C 5503:1967 ピックアップ 電子 1982 8
JIS C 5504:1977 ホーンスピーカ 電子 1981 8
JIS C 5504:1977 ホーンスピーカ 電子 1982 8
JIS C 5508:1978 小形イヤホン 電子 1981 8
JIS C 5508:1978 小形イヤホン 電子 1982 8
JIS C 5509:1977 磁気録音テープ プラスチック 1981 11
JIS C 5509:1977 磁気録音テープ プラスチック 1982 11
JIS C 5509:1977 磁気録音テープ プラスチック 1985 11
JIS C 5509:1977 磁気録音テープ プラスチック 1989 11
JIS C 5509:1977 磁気録音テープ プラスチック 1990 11
JIS C 5509:1977 磁気録音テープ プラスチック 1991 11
JIS C 5510:1970 磁気録音テープ用リール プラスチック 1981 11
JIS C 5510:1970 磁気録音テープ用リール プラスチック 1982 11
JIS C 5510:1970 磁気録音テープ用リール プラスチック 1985 11
JIS C 5510:1970 磁気録音テープ用リール プラスチック 1989 11
JIS C 5510:1970 磁気録音テープ用リール プラスチック 1990 11
JIS C 5510:1970 磁気録音テープ用リール プラスチック 1991 11
JIS C 5512:2000 補聴器 医療機器Ⅲ 機器・装置・システム/光学機器/家庭用機器 2011 73-3
JIS C 5512:2000 補聴器 高齢者・障害者 アクセシブル・デザイン 2004 38
JIS C 5512:2000 補聴器 高齢者・障害者 アクセシブル・デザイン 2007 38
JIS C 5512:2000 補聴器 高齢者・障害者 アクセシブル・デザイン 2011 38
JIS C 5512:2000 補聴器 高齢者・障害者 高齢者・障害者配慮設計/用語/車いす/義足/義肢/装具/その他 2002 38
JIS C 5512:2000 補聴器 高齢者・障害者 高齢者・障害者配慮設計/用語/車いす/義足/義肢/装具/その他 2003 38
JIS C 5512:2000 補聴器 福祉 2001 38
JIS C 5512:2015 補聴器 医療機器Ⅲ 機器・装置・システム/光学機器/家庭用機器 2015 73-3
JIS C 5515:1981 標準コンデンサマイクロホン 公害関係 1982 10
JIS C 5515:1981 標準コンデンサマイクロホン 公害関係 1989 10
JIS C 5515:1981 標準コンデンサマイクロホン 公害関係 1990 10
JIS C 5515:1981 標準コンデンサマイクロホン 公害関係 1991 10
JIS C 5515:1981 標準コンデンサマイクロホン 電子 1982 8
JIS C 5515:1981 標準コンデンサマイクロホン 環境測定 1992 10
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JIS C 5872:1992 空間ビーム光用光アイソレータ通則 電子Ⅱ オプトエレクトロニクス 2002 22
JIS C 5872:1992 空間ビーム光用光アイソレータ通則 電子Ⅱ オプトエレクトロニクス 2003 22
JIS C 5872:1992 空間ビーム光用光アイソレータ通則 電子Ⅱ オプトエレクトロニクス 2004 22
JIS C 5873:1992 空間ビーム光用光アイソレータ試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1993 8
JIS C 5873:1992 空間ビーム光用光アイソレータ試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1995 8
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JIS C 5901:2009 光伝送用受動部品試験方法(追補1) 電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス 2011 22-1
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JIS C 5910:2006 光ブランチングデバイス通則(波長選択性のないもの) 電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス 2011 22-1
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JIS C 5912:2006 波長スイッチ通則 電子Ⅱ-1 2007 22-1
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JIS C 5914:2006 光サーキュレータ通則 電子Ⅱ-1 2007 22-1
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JIS C 5914:2013 光サーキュレータ通則 電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス 2015 22-1
JIS C 5915:2009 シングルモード光ファイバピッグテール型光サーキュレータ 電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス 2011 22-1
JIS C 5915:2009 シングルモード光ファイバピッグテール型光サーキュレータ 電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス 2015 22-1
JIS C 5916:2006 光伝送用分散補償器通則 電子Ⅱ-1 2007 22-1
JIS C 5916:2006 光伝送用分散補償器通則 電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス 2011 22-1
JIS C 5916:2012 光伝送用分散補償器通則 電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス 2015 22-1
JIS C 5916-3:2013 光ファイバ形分散補償器 電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス 2015 22-1
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JIS C 5921:2009 シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器 電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス 2011 22-1
JIS C 5921:2009 シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器 電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス 2015 22-1
JIS C 5925-1:2011 WDNデバイス通則 電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス 2015 22-1
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JIS C 5925-4:2011 シングルモード光ファイバピッグテール形980/1550nmDMデバイス 電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス 2011 22-1
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JIS C 5934:1999 光伝送用レンズ通則 電子Ⅱ オプトエレクトロニクス 2001 22
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JIS C 5934:1999 光伝送用レンズ通則 電子Ⅱ-1 2007 22-1
JIS C 5934:1999 光伝送用レンズ通則 電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス 2011 22-1
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JIS C 5935:2005 光伝送用レンズ試験方法 電子Ⅱ-1 2007 22-1
JIS C 5935:2005 光伝送用レンズ試験方法 電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス 2011 22-1
JIS C 5935:2005 光伝送用レンズ試験方法 電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス 2015 22-1
JIS C 5936-3:2011 シングルモード光ファイバピッグテール形光アイソレータ 電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス 2011 22-1
JIS C 5936-3:2011 シングルモード光ファイバピッグテール形光アイソレータ 電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス 2015 22-1
JIS C 5940:1989 光伝送用半導体レーザ通則 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1991 8
JIS C 5940:1989 光伝送用半導体レーザ通則 電子 1989 8
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JIS C 5941:1989 光伝送用半導体レーザ試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編 1991 8
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